Fourniture et installation d’un Microscope Electronique à Balayage

Description

Le présent marché a pour objet la fourniture et l'installation d'un microscope électronique à Balayage à effet de champ. Lot 1: Le CEA souhaite faire l'acquisition d'un Microscope Electronique à Balayage à effet de champ afin de permettre l’observation de matériaux en phase solide présentant des propriétés diverses : conductrices, non conductrices, sous forme massive ou de poudre, éventuellement sensibles sous faisceau électronique, etc. Les options suivantes sont susceptibles d’être levées dès la notification du marché : Options à chiffrage obligatoire : • Table pour les périphériques de fonctionnement placée à droite du MEB (PC, contrôleurs, écrans…), • Un contrat de maintenance Full Service (portant sur les éléments les plus sensibles, d’une durée d’1 an minimum) Options à chiffrage facultatif : • Un système permettant à l’ensemble du support d’échantillon mécanique de sortir intégralement de la chambre à l’ouverture de la porte, en vue d’y monter les échantillons ou des dispositifs encombrants (exemple : platine in-situ), • Un système permettant d’optimiser l’imagerie d’échantillons non conducteurs sous vide partiel (minimisation de la charge de l’échantillon), • Un système permettant le nettoyage de la surface des échantillons dans la chambre et potentiellement de la chambre elle-même pour réduire les contaminations (intégré au pilotage du MEB), • Un joystick 5 axes pour le fonctionnement du MEB, • Une platine de refroidissement Peltier, Tmin ≤ -30°C, Tmax ≥ 50°C (hors utilisation platine in-situ), • Différents types de logiciels complémentaires (à chiffrer indépendamment si non compris dans l’offre de base) : o Un logiciel permettant de réaliser des acquisitions et assemblages complexes de prises de vue multiples (multi-champs, multi-échantillons, multi-détecteurs), o Un logiciel d’édition de rapport rapide regroupant l’ensemble des informations obtenues (images SEM, image optique, spectre EDX, position de la platine, etc...), o Un logiciel pour le traitement des images. • Pour le système EDS, o Possibilité d’avoir un système de simulation de la poire d’interaction en fonction des éléments de l’échantillon dans le logiciel o Système de correction de dérive si non inclus de base • Pour la platine In-Situ, possibilité d’évolution du type d’essais mécaniques o Outillages pour essai de compression o Outillages pour essais de flexion