Referenzstapelanlage für Brennstoffzellen-Stacks incl. hochauflösendem optischen Prüfsystem

Description

Lieferung und Aufstellung einer Anlage zum Stapeln von Brennstoffzellen mit der Möglichkeit einer frei einstellbaren Ablageposition jeder einzelnen Wiederholeinheit incl. eines hochauflösenden optischen Prüfsystems für Oberflächen- und Geometrieprüfung der BZ-Komponenten. Lot 1: Hauptbereich Lieferung und Aufstellung einer Anlage zum Stapeln von Brennstoffzellen (Referenzstapelanlage) mit der Möglichkeit einer frei einstellbaren Ablageposition jeder einzelnen Wiederholeinheit. Die zu beschaffende Anlage sollte die grundlegenden Aufgaben in höchstem Maße erfüllen:1. Formatflexible Assemblierung (durch Umrüstung)2. vollautomatischer und manueller Betrieb der Anlage3. Identifikation der Bauteile4. Inspektionsmodul für Oberflächen- und Geometrieprüfung der Wiederholeinheiten 5. Ablagegenauigkeit Einzelkomponente 50µm 6. Frei programmierbare Ablageposition jeder Wiederholeinheit in 50µm Schritten in xy-Richtung7. Frei programmierbare Ablageposition jeder Wiederholeinheit gedreht in xy Ebene in 0,05° Schritten 8. Aussortieren von fehlerhaften Wiederholeinheiten9. Verpressung des Zellstapels (max.100 kN) mit frei programmierbarem Parametern (Kraft, Weg, Beschleunigung)10. Variable Stapelhöhe11. Kraft-/Wegüberwachung während des Verpressprozesses (Genauigkeit min. 10N; 0,01mm)12. Speicherung sämtlicher Daten eines Stapels in Protokoll/Datensatz in anlagenseitiger Datenbank Lot 2: Losbeschreibung Lieferung und Aufstellung eines hochauflösenden optischen Prüfsystems für Oberflächen- und Geometrieprüfung der BZ-Komponenten. Die zu beschaffenden Geräte sollten die grundlegenden Aufgaben in höchstem Maße erfüllen:1. Untersuchung der Brennstoffzellen-Komponenten Bipolarplatte (BPP) undMembran-Elektroden-Einheit (MEA)2. Formatflexible Untersuchung (max. Format 300 x 650)3. Integration des Prüfsystems in eine Referenzstapelanlage4. Automatischer und manueller Betrieb des Messgerätes5. Identifikation des Messobjektes6. Überprüfung der Lagetoleranzen und Verschmutzungen und Beschädigungen des Messobjektes 7. Messgenauigkeit von 10 µm8. Erkennen von Partikelgrößen ab 20 µm9. Aussortieren von fehlerhaften Wiederholeinheiten10. Verknüpfung des Datenmanagements mit der Referenzstapelanlage11. Speicherung der Daten der Komponente in einer anlagenseitigen Datenbank